attoAFM/MFM Ixs は粗動およびスキャン機構にattocube独自のポジショナー・スキャナーを使用しており極低温で粗動範囲3mmX3mm、スキャン範囲15μmX15μmの大きな範囲が可能となっております。

ヘッド部はコンパクト筐体に収めら、同時に高い精度で表面のイメージを得ることが出来ます。光ファイバーを使用し、光学的干渉によりカンチレバーの変位を検出することでチップ－試料表面間の距離制御を 行っています。市販のAFMカンチレバーを使用できMFM, EFMなどの測定にも対応できます。

attocubeのAFM I/MFM Iでは、カンチレバー交換に煩雑なアライメント作業が不要になりました。このアライメントフリーカンチレバーホルダーではカンチレバーホルダーの脱着、カンチレバーの交換を非常に簡単に行うことができます。

カンチレバー交換には、まずカンチレバーホルダーを交換プラットフォームに乗せます。チップ自身は、バネ式の押さえホルダーで固定されます。ホルダーを“開けた”状態で、フリーになったカンチレバーを交換、再びホルダーを“閉じる”ことでカンチレバーが必要な場所に固定され、アライメントも取れている状態になります。

このアライメントフリーカンチレバーホルダーにより一連の作業は、安全で、短時間で済ませることができます。このアライメントフリーカンチレバーホルダーは、Nanosensors社のPointProbe® Plus XY-Alignment シリーズに対応します。

MFMは最も一般的に使われているAFMテクニックの一つです、磁気チップを使用し、局所的な磁場のZ軸勾配を測定しイメージとします。