PRODUCTS製品案内

走査型プローブ顕微鏡 Scanning Probe Microscope

RHK社R9plusコントローラ

R9plusコントローラ

R9plusコントローラ

RHK社SPMコントローラ

PanScan

主な特徴

  • 動作安定性を向上させるネイティブ64bitアプリケーション、より高速な動作、先進的なスペクトロスコピー測定のためのデーターアレー。
  • デュアルプローブスキャンコントロールとデュアルスキャン範囲ウィンドウズにより1台のコントローラで2つの別個のSPMを動作させることができます。
  • 強化されたコンフィグレーションフレキシビリティのための新しいFPGAアーキテクチャ
  • インベンターSDK/IHDL: カスタムルーチン、LabVIEW VI, MATLAB, Python等を通したデーター交換
  • インベンターSDK/IHDL: カスタムルーチン、LabVIEW VI, MATLAB, Python等を通したデーター交換
  • さらに多くのデーターチャンネル: 60チャンネル以上
  • サーマルレゾナンスピーク検出のためのズームFFT
  • 5倍速いデーターストリーミング、5倍速い高速スキャン
  • パーフェクトSpec: カスタマイズ可能なスペクトロスコピー測定。
  • ノイズを1/4にする新しいアナログ回路。
  • リアルタイムスペクトロスコピーデータースライス機能によるデーター取得中のスペクトロスコピーデーターアレーのスライシング。
  • 改良されたロックインアンプ – 100kHzの復調帯域幅
  • 2の累乗以外のスペクトロスコピーグリッド。100×50ポイントなどが可能
  • 最大ロックインアンプ6台。PLL2基。
  • デジタルフィルタ帯域幅: 0.01 Hzから100 kHz 任意の値に設定可能
  • ロックインアンプとPLLを独立あるいは直列に設定可能
  • 矩形スキャン範囲
  • KPFM機能:複数周波数測定、コンタクトポテンシャル測定用フィードバックループ
  • アサイン可能なモニター用DAC4個:60もの内部シグナルを外部機器と連携可能
  • 最大9つのフィードバックループ:複数プローブ制御、KPFM、干渉計など
  • 独立してアサイン可能なスキャン用定電圧DAC
  • フィードバックループの並列接続及び直列接続
  • 新しいプローブドライブインタフェース:プログラマブルな出力電圧範囲によるQsが1から1,000,000までのプローブドライブの最適化
  • 改良されたシグナルコントロールモジュール。



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