PRODUCTS製品案内
走査型プローブ顕微鏡 Scanning Probe Microscope
RHK社Beetleファミリー
Beetle UHV VT AFM

Beetle超高真空用可変温度AFM

主な仕様
- 小型化による機械的、熱的安定性、高剛性 サーマルドリフト <1Å/min
- 直観的操作
- XYモーター駆動によるカンチレバー用レーザー調節
- XYモーター駆動によるPSD位置調節
- ミラーやレンズがない、シンプルな光学アクセスポート
- 定量的水平力(LFM)測定
- レーザー、PSD両方の位置調整による垂直力、水平力のnullingが可能
- 試料の加熱によるスキャンチューブへの影響なし
- 共鳴周波数による制約が少なく高速スキャンが可能
- 粗動機構: 5 mm X 5 mm (XY)
- スキャン範囲: 5 μm X 5 μm (XY)
- 分解能: 0.5 Å(X,Y), 0.1 Å(Z)
- サーマルドリフト: <1Å/min
- 試料温度; 25K(LHe)から>1500Kまたは100K(LN2)から>1500K
- 熱電対による試料温度の直接測定
- イメージング可能な試料温度: 1000K (ThermaAFM使用), 1000K (STM)
- 試料ホルダーに6電極。(温度センサー用2, ヒーター用2, 汎用2)同一ホルダーにて加熱、等に対応
- クリービング用試料ホルダー、RFシグナル伝達用ホルダー、その他
- 試料サイズ: 10 mm X 10 mm