PRODUCTS製品案内

走査型プローブ顕微鏡 Scanning Probe Microscope

RHK社PanScan ファミリー

PanScan Freedom

PanScan Freedom

無冷媒極低温STM, AFM

主な仕様

  • LT-STM, LT-AFM動作
  • 一様なチップー試料温度
  • mK, 高磁場対応
  • 液体寒剤不要
  • 時間にとらわれない極低温維持
  • 安定した極低温イメージング
  • 原子分解能 15 – 400 K
  • 9 – 400 K オプション
  • XYドリフト 0.2 Å/hour
  • Zドリフト 0.2 Å/day
  • 高精度STS
  • XYオフセット機能内蔵
  • 真空中のチップ交換可能
  • STMとAFM-pPlus真空中にて切り替え可能
  • 試料サイズ 10 mm X 10 mm (標準), フラットプレートホルダー使用
  • 高精度なチップリトラクションと再アプローチ
  • 粗動機構: 5mm X 5mm X 8mm (XYZ)
  • スキャン範囲: 6 μm X 6 μm XY (RT)
  • 試料を取り外すことなくチップ交換可能
  • 光学アクセスによる試料-チップモニター(分解能4μm以下)