PRODUCTS製品案内
走査型プローブ顕微鏡 Scanning Probe Microscope
RHK社PanScan ファミリー
PanScan Freedom
無冷媒極低温STM, AFM
主な仕様
- LT-STM, LT-AFM動作
- 一様なチップー試料温度
- mK, 高磁場対応
- 液体寒剤不要
- 時間にとらわれない極低温維持
- 安定した極低温イメージング
- 原子分解能 15 – 400 K
- 9 – 400 K オプション
- XYドリフト 0.2 Å/hour
- Zドリフト 0.2 Å/day
- 高精度STS
- XYオフセット機能内蔵
- 真空中のチップ交換可能
- STMとAFM-pPlus真空中にて切り替え可能
- 試料サイズ 10 mm X 10 mm (標準), フラットプレートホルダー使用
- 高精度なチップリトラクションと再アプローチ
- 粗動機構: 5mm X 5mm X 8mm (XYZ)
- スキャン範囲: 6 μm X 6 μm XY (RT)
- 試料を取り外すことなくチップ交換可能
- 光学アクセスによる試料-チップモニター(分解能4μm以下)